Sistem Ujian Pemisahan Imej Sekunder – Versi makmal
Sistem Ujian Pemisahan Imej Sekunder ialah sistem pengukuran bebas yang melaksanakan pengesanan pemisahan imej di kawasan kamera dan kawasan lain pada kaca.
Versi Sistem Ujian Pemisahan Imej Sekunder-Makmal boleh menguji nilai pemisahan imej sekunder bagi titik khusus pada sudut pandangan yang berbeza pada sudut pemasangan yang ditentukan dengan panduan sistem penglihatan. Sistem ini boleh menunjukkan penggera melebihi had, merekod, mencetak, menyimpan dan mengeksport keputusan ujian.
Sampel
Julat saiz sampel: 1.9*1.6m/1.0*0.8m (disesuaikan)
Julat sudut pemuatan sampel: 15°~75° (Saiz sampel, julat sudut pemuatan, julat pengukuran dan julat pergerakan sistem mekanikal boleh disesuaikan mengikut keperluan.)
Julat sudut tontonan：Sudut mendatar-15°~15°，Sudut menegak-10°~10° (disesuaikan)
Prestasi
Kebolehulangan ujian titik tunggal：0.4' (sudut pemisahan imej sekunder <4'), 10% (4'≤ sudut pemisahan imej sekunder <8'), 15% (sudut pemisahan imej sekunder ≥8')
Sudut pemuatan sampel: 15°~75° (disesuaikan)
Sistem Ujian Pemisahan Imej SekunderParameter
| Julat pengukuran：80'*60' Nilai minimum：2' Resolusi：0.1' | Sumber Cahaya：Laser Panjang gelombang：532nm Kuasa：<20mw |
VisionSsistemParameter
| Julat pengukuran：1000mm*1000mm | Ketepatan kedudukan：1mm |
Parameter Sistem Mekanikal (disesuaikan)
| Saiz sampel：1.9*1.6m/1.0*0.8m； Kaedah penetapan sampel：2 titik atas, 2 titik bawah, paksisimetri. Asas sudut pemasangan: satah yang dibentuk oleh empat titik tetap sampel Julat pelarasan sudut pemuatan sampel：15°~75° | X: arah mendatar Z: arah menegak Jarak arah-X：1000mm Jarak arah-Z：1000mm Kelajuan terjemahan maksimum：50mm/Saat Ketepatan kedudukan terjemahan：0.1mm |
